X-Pectra代表新一代的X射线微荧光光谱仪，它用来描述许多种材料的化学混合物的结构，包括固体，液体，薄膜和粉末 样品。 应用领域包括冶金和有色金属，地质，矿业，珠宝，法医科学，艺术品估，海关监察，工业化学和医药研发等。

用途：在微小范围内用微X射线荧光技术进行定性和 定量的元素分析

1. 应用领域

• 珠宝和重金属工业

• 法医和海关监察实验室

• 地质和采矿

• 水泥，难融化物和陶瓷工业

• 食品和化妆品

• 油漆和化学工业

• 工程和冶金工业

• 大学和教育研究机构

• 考古和艺术研究

• RoHs, WEEE

2. 用户优势

• 光学显微镜准确确定样品位置

• 操纵杆操作自动显示XYZ坐标来准确确定样品位置

• 直观和易操作的硬件和软件

• USB 2.0 接口

• 符合国际最高的安全规范

• 测量范围： ppm to 100%

•元素检测范围从 Al 到U 在标准大气压下