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SE-i 光谱椭偏仪

技术参数

1、自动化程度：固定变角

2、应用定位：原位定制型

3、基本功能：Psi/Delta、N/C/S等光谱

4、分析光谱：380-1000nm，支持按需定制化

5、单次测量时间：0.5-5s

6、重复性测量精度：0.01nm

7、入射角范围：65°（支持定制）